非破壊検査とは、音、光、磁気、電気などの特性を利用して、検査対象物の性能に損傷を与えたり、影響を与えたりすることなく、検査対象物の欠陥や不均一性を検出し、サイズを測定することです。 、位置、欠陥の場所。 検査対象物の技術的状態（適格か否か、余寿命など）を判定するためのあらゆる技術的手段の総称。
一般的に使用される非破壊検査方法: 超音波検査 (UT)、磁粉検査 (MT)、液体浸透検査 (PT)、および X 線検査 (RT)。
超音波検査
UT (超音波検査) は、業界における非破壊検査法の 1 つです。 超音波が物体に入射し、欠陥に遭遇すると、音波の一部が反射されます。 反射波を送信機と受信機で解析することで、極めて高精度に欠陥を検出し、内部欠陥の位置や大きさを表示したり、材料の厚さを測定したりすることができます。
超音波検査の利点:
1. 大きな貫通能力。たとえば、鋼中の有効探知深さは 1 メートル以上に達する可能性があります。
2. クラック、層間などの平面欠陥の場合、検出感度が高く、欠陥の深さと相対的なサイズを測定できます。
3. 可搬性があり、操作が安全で、自動検査も容易に実現できます。
欠点:
複雑な形状のワークを検査することは容易ではなく、検査面にはある程度の平滑性が求められ、十分な音響結合を確保するためにプローブと検査面の間の隙間を接触媒質で埋める必要があります。
磁粉試験
まずは磁粉探傷試験の原理を理解しましょう。 強磁性体とワークが磁化された後、不連続部の存在によりワークの表面および表面近傍の磁力線が局所的に歪み、漏洩磁界が発生し、ワーク上に塗布された磁性粉が吸収されます。ワークピースの表面に作用し、適切な光の下で可視磁場を形成します。 トレースにより、不連続部の位置、形状、サイズが表示されます。
磁粉試験の適用性と制限は次のとおりです。
1. 磁粉検査は、強磁性体の表面や表面近傍にある、隙間が非常に狭く目視では確認しにくい微小な不連続部の検出に適しています。
2. 磁粉検査はさまざまな状況で部品を検出でき、さまざまな種類の部品も検出できます。
3. クラック、インクルージョン、ヘアライン、白斑、折れ、コールドシャット、緩みなどの欠陥が見られる場合があります。
4. 磁粉検査では、オーステナイト系ステンレス鋼の材料やオーステナイト系ステンレス鋼の電極で溶接された溶接部は検出できません。また、銅、アルミニウム、マグネシウム、チタンなどの非磁性材料も検出できません。 表面の浅い傷、深い穴が埋め込まれているもの、ワーク表面との角度が20度未満のものでは、剥離や折れを見つけるのが困難です。
液体浸透試験
液体浸透試験の基本原理は、部品の表面を蛍光染料または着色染料でコーティングした後、浸透剤が毛細管現象により一定期間表面開口部の欠陥に浸透できるというものです。 部品表面の余分な浸透剤を除去した後、A 現像液を部品表面に塗布します。
同様に、毛細管の作用下で、造影剤は欠損に保持されている浸透液を引き付け、浸透液が造影剤に浸透して戻り、特定の光源（紫外線または白色光）下では、痕跡が残ります。欠陥の浸透流体が表示され（黄緑色の蛍光または明るい赤色）、欠陥の形態と分布が検出されます。
侵入テストの利点は次のとおりです。
1. さまざまな物質を検出できます。
2.高感度;
3. 直感的な表示、便利な操作、低検出コスト。
侵入テストの欠点は次のとおりです。
1. 多孔質のルースマテリアルや表面が粗いワークの検査には適しません。
2. 貫入試験では欠陥の表面分布しか検出できず、実際の欠陥深さの把握が困難なため、欠陥を定量的に評価することが困難です。 検出結果は操作者によっても大きく左右されます。
X線検査
最後の放射線検出は、X 線は照射対象物を通過すると失われ、厚さが異なる材質では吸収率も異なるため、ネガフィルムは照射対象物の反対側に配置されます。これは光線の強度が異なるため異なります。 対応するグラフィックスが生成され、レビュー担当者はその画像に基づいて、物体の内部に欠陥があるかどうか、欠陥の性質を判断できます。
X線検査の適用性と制限:
1. ボリュームタイプの欠陥の検出に対する感度が高く、欠陥の特徴付けが容易です。
2. X線ネガは保管が容易で、トレーサビリティーが可能です。
3. 欠陥の形状と種類を視覚的に表示します。
4. 欠点は、欠陥の埋め込み深さを特定できないことです。 同時に、検出器の厚さは制限されます。 ネガフィルムは特殊な洗浄が必要で人体に有害であり、コストも高い。
全体として、超音波探傷と X 線探傷は内部欠陥の検出に適しています。 このうち、超音波は5mm以上の規則的な形状の部品に適しており、X線では欠陥の埋没深さを特定することができず、放射線が発生します。 磁粒子および浸透探傷試験は、部品の表面欠陥の検出に適しています。 そのうち、磁粉試験は磁性材料の検出に限定され、浸透探傷試験は表面開口欠陥の検出に限定されます。
